Исследование поверхности полупроводника методом вольт-фарадных характеристик

Исследование поверхности полупроводника методом вольт-фарадных характеристик
Только для организаций
Вид издания: 
Учебно-методическое пособие
Год: 
0
Издательство: 
[НПИ]
ББК: 
32.85я73
УДК: 
621.382(075.8)
Правообладатель (©): 
Новгородский политехнический институт
Ответственность :
Новгородский политехнический институт
Стационарная ссылка:
https://novsu.bookonlime.ru/node/54153
Авторский знак:
И 88
Место публикации:
[Новгород]
Ключевые слова:
Вольт-фарадные характеристики, транзисторы со структурой, МДП структуры