Исследование поверхности полупроводника методом вольт-фарадных характеристик
Исследование поверхности полупроводника методом вольт-фарадных характеристик
- Вид издания
- Учебно-методическое пособие
- Год
- 0
- Издательство
- [НПИ]
- Место издания
- Новгород
- ББК
- 32.85я73
- УДК
- 621.382(075.8)
- Правообладатель (©)
- Новгородский политехнический институт
- Относится к ВУЗу(ам)
- Новгородский государственный университет им. Яр. Мудрого
- Каталоги
- Учебная литература
- Основной раздел каталога
- Учебная литература
- Авторский знак
- И 88
- Ответственность
- Новгородский политехнический институт
- Ключевые слова
- Вольт-фарадные характеристики, транзисторы со структурой, МДП структуры